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能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RII
JSX-3400RII是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，还对卤素Cl高精度测试分析。能同时达到无卤测试及ROHS测试。
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主要特点

1.实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！
I 采用新光学系统与高分辨率 Si（Li）型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。（业界
最好的保证分辩率）。
II 最新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波
峰背景的低减与避免共存元素影响。
2.内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！
I 通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。
II 可针对Cl的检量线，检测极限可达9个PPM，达到无卤测试要求。
3.简单方便的操作系统
2 I 按一键就完成测定！自动保存结果。一键生成报告
4.材料元素 Monitoring 系统。
I 实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界最多补正功能。满足样
品基材多样性需求。
5.采用300mmφ大型样品室，自动样品样品仓门。
3 I 大样品可以直接放入样品室。自动样品仓门更好密封样品室。


其他功能


1.分析结果报告软体：测试自动保存结果，并可一键生成报告。（标配）






→


2.镀锡分析软体（可选）
I 无铅焊锡和Sn焊料中的Pb分析非常困难，使用该软体可以简单进行非破坏分析，并
进行镀层厚度修正分析准确。
3.镀镍分析软体（可选）
23 I 非破坏测量无电解Ni镀层中的Pb，Cd进行镀层厚度修正分析准确。成功地去除了背底
的影响。
I

技术参数


元素范围 Na11-U92
解析度保证149ev 以下（JSX-3400R是目前市面上解析度最佳之桌上型XRF）
X射缐管 5-50kV，1mA，50W
靶材 Rh靶
滤波机构 4种自动交换（包括Open）
准直器 1mmΦ，3mmΦ，7mmΦ
探测器液氮制冷型Si（Li）半导体探测器
液氮 3升（消耗量1升/日以下）仅使用
样品室尺寸 300 mmΦx 150mmH
样品室环境大气，真空（可选）
作业系统 Windows XP，19寸彩色显示器
主要附件能量校正样品/强度校正样品/检查样品
设备电源单相AC100V±10%，单相AC220V±10%